光波導(dǎo)光學(xué)相控陣掃描控制方法與實(shí)驗(yàn)研究.pdf

1、光波導(dǎo)光學(xué)相控陣具有驅(qū)動電壓低、功耗小、響應(yīng)速度快(ns量級)等特點(diǎn)，克服了現(xiàn)有光學(xué)相控陣技術(shù)的不足。論文針對光波導(dǎo)光學(xué)相控陣掃描控制方法與實(shí)驗(yàn)的研究開展的工作。對光波導(dǎo)相控陣波束掃描技術(shù)的研究，具有理論意義和應(yīng)用價(jià)值。
　　基于介質(zhì)波導(dǎo)場理論和衍射疊加模型，研究了光波導(dǎo)相控陣陣元內(nèi)場傳輸特性和耦合特性，以及波導(dǎo)陣列空間輻射場。分析了結(jié)構(gòu)參數(shù)對場的影響，為合理設(shè)計(jì)光波導(dǎo)陣列器件提供了理論依據(jù)。
　　利用研制的FPGA光波導(dǎo)相

2、控陣控制系統(tǒng)，建立了光波導(dǎo)光學(xué)相控陣波束掃描實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了一般和2π加電方式光束掃描。實(shí)現(xiàn)了正向13.3°掃描角范圍，最大0.5°掃描角度誤差，最高200kHz光束掃描，驗(yàn)證了光波導(dǎo)陣列掃描的可實(shí)現(xiàn)性。通過串口通信和鍵盤控制設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了波束的自動掃描和手動掃描，并方便在線相位校正，為實(shí)現(xiàn)自適應(yīng)相位校正系統(tǒng)奠定了基礎(chǔ)。
　　考慮光波導(dǎo)器件加工工藝誤差對光波導(dǎo)相控陣空間輻射場的影響，以及實(shí)驗(yàn)掃描結(jié)果的詳細(xì)分析，研究了基于模式搜索法的