2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、本文針對模擬電路故障診斷識別率低,有效性不足等問題,提出了新故障診斷模型。利用算法對電路進行故障特征提取,進而結(jié)合支持向量數(shù)據(jù)描述(Support Vector Data Describe, SVDD)分類器進行診斷。本文具體作了以下研究:
 ?。?)針對模擬電路故障信號的容差性、非線性、非平穩(wěn)性等檢測困難問題,提出適合此類信號的希爾伯特黃變換(Hilbert Huang Transform,HHT)算法。本文提出了端點延拓法、相

2、關(guān)系數(shù)法和集合經(jīng)驗?zāi)J椒纸夥ǎ‥nsemble Empirical Mode Decomposition,EEMD)改進HHT算法,分別從三個方面解決了特征提取中產(chǎn)生邊界效應(yīng)、虛假分量和模態(tài)混疊等問題。用改進后的HHT算法提取希爾伯特譜能量和邊際譜能量等故障特征。
 ?。?)研究不同核函數(shù)、核參數(shù)和懲罰系數(shù)對SVDD性能的影響,并尋找優(yōu)化內(nèi)核參數(shù)、核函數(shù)和組合核函數(shù)等優(yōu)化SVDD分類器。融合改進HHT算法和優(yōu)化后的SVDD分類器,

3、用提取出的故障特征向量訓(xùn)練SVDD分類器,最后將故障特征向量輸入SVDD中檢測。通過實例仿真驗證,比普通方法有更高的診斷正確率。
 ?。?)提出正交經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解(Orthogonal Empirical Mode Decomposition,OEMD)和核模糊C均值聚類(Kernelized Fuzzy Possibilistic C-Means,KFPCM)優(yōu)化SVDD分類器相結(jié)合的方案。它通過 OEMD獲得具有嚴格正交性的固有

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