基于雙CPU的電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的研究與設(shè)計(jì).pdf

1、隨著大量非線性、沖擊性負(fù)荷被廣泛應(yīng)用于電力系統(tǒng)以及日常生活中，電能質(zhì)量問(wèn)題受到越來(lái)越多的關(guān)注。新的指標(biāo)和分析方法的確立和使用，使得國(guó)內(nèi)一些以單片機(jī)為核心的傳統(tǒng)監(jiān)測(cè)裝置很難適應(yīng)現(xiàn)代電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)對(duì)計(jì)算能力、響應(yīng)速度以及精度等方面的要求。因此，研究新型現(xiàn)代電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，對(duì)提高我國(guó)電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)水平有重要意義。 論文分析了電能質(zhì)量研究發(fā)展趨勢(shì)及國(guó)內(nèi)外電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)現(xiàn)狀，設(shè)計(jì)了一種基于DSP和MCU的雙CPU模式的電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。針對(duì)D

2、SP數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)的特殊性和功能要求，深入地研究了缺相判斷、同步采樣、A/D轉(zhuǎn)換與數(shù)據(jù)采集以及。DSP數(shù)據(jù)處理等軟硬件模塊的設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)：使用VHDL語(yǔ)言設(shè)計(jì)缺相判斷電路，并配合CPID和鎖相環(huán)實(shí)現(xiàn)硬件同步采樣，采用16位6通道A/D轉(zhuǎn)換芯片完成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換；在數(shù)據(jù)處理模塊中采用加窗插值FFT算法并配合FIR數(shù)字濾波器有效地降低了頻譜泄露和柵欄效應(yīng)。對(duì)于MCU數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，采用了ARM+Linux的系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)方案，著重進(jìn)行了嵌入式Linu