截尾情形下指數(shù)分布的Bayes統(tǒng)計(jì)推斷.pdf

1、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,產(chǎn)品的可靠性愈來愈受到人們的重視。由于產(chǎn)品的壽命是一個隨機(jī)現(xiàn)象,所以確定一種產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)最后可以歸結(jié)為一個統(tǒng)計(jì)推斷問題。然而在壽命試驗(yàn)中,指數(shù)分布的應(yīng)用很廣泛。因此結(jié)合 Bayes、經(jīng)驗(yàn) Bayes理論和Bayes判別方法應(yīng)用于可靠性領(lǐng)域是一個有意義的研究方向。本文在前人成果的基礎(chǔ)上,對上述問題進(jìn)行了研究,主要工作包括:
　　首先給出了在定數(shù)截尾情形下有失效單參數(shù)指數(shù)分布的參數(shù)的Bayes估計(jì)和可靠性經(jīng)驗(yàn)B

2、ayes估計(jì)。同時在定時截尾試驗(yàn)下,對單參數(shù)指數(shù)分布給出了最小風(fēng)險(xiǎn)準(zhǔn)則,并給出了此問題的Bayes判別方法。
　　本文還介紹了在定時截尾有失效情形雙參數(shù)指數(shù)分布的統(tǒng)計(jì)推斷。從完全數(shù)據(jù)和缺失數(shù)據(jù)兩個方面進(jìn)行了考慮,并在前人成果的基礎(chǔ)上給出了相應(yīng)它們的參數(shù)點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)。
　　其次在Linex損失函數(shù)下,討論了刻度指數(shù)族中參數(shù)的經(jīng)驗(yàn)Bayes(EB)檢驗(yàn)問題。利用概率密度函數(shù)及其導(dǎo)數(shù)的核估計(jì)方法構(gòu)造了EB檢驗(yàn)函數(shù),并證明了它的